kobik entegre devrelerin hazırlanmasında önemli rol oynayan akustik mikroskop yakın gelecekte kendisinden en çok söz edilen laboratuar ve endüstri donanımlarından biri olacaktır.
FAYDALANILAN KAYNAKLAR:
TSAI,G.S^LEE,G.e.vfeWANG,J.K. Transmission Scanning Acoustic Microscopy, international
Laboratory, S: S, C: 9, Mayıs-Haziran 1979 U.S.A.
ROSENCWAIG, Allan Photoacoustic Microscopy, international Laboratory, S: 5, C: 9, Eylül- Ekim 1979, U.S.A.
QUATE, Calvin F., Acoustic Microscopy, Scientific American, Ekim 1979, U.S.A.
Akustik mikroskop prensiplerine oy-1 gun olarak numunenin üzerine ült- rasonlk dalganın düşürülmesi için safir yani silisyum dlokslt birmercek kullanılmıştır. (A). (B) noktası ¿Hm bir uç olup sinyal jeneratöründen gelen elektrik sinyallerini plezoelektrik maddenin (C) üzerine verir. Plezoelektrik malzeme aldığı sinyali votatfma, kendi plezoelektrik katsayısına, kalınlığına ve safir ile temas yüzeyinin verimliliğine bağlı olarak frekansı ve genliği belirli ultrasomk dalgalar (D) haline getirir ve safire geçirir. Safir parçasının öbür ucu şekilde görüldüğü gibi içbükey tıale getirilmiş olup (E)r oyuğun içi yansıma yapmayan camla kaplanmıştır. Bu oyuk mercek ödevini görür ve safir içinden gelen dalgalan odak noktasında toplar. (E) nin detayı için Şekil // ye bakma. Odakta yoğunlaşan ses dalgalan numunenin (F) istenilen noktasına çarptırılır.
bîr merceğin yapısı
|
A |
Safir (A) içinden gelen ültrasonik dalgalar (B) safirin ucundaki küresel içbükey bir yüzey tarafından kırılarak bir odak noktasında toplanır (C).
İçbükey yüzeyin (D) içi ışığı yansıtmayan cam ile kaplıdır. Numuneyi safir yüzeyine paralel bir düzlemde İki eksen boyunca hareket ettirerek her noktaya bir ses yoğunlaştınlması verilmesi mümkündür. Ses dalgalan ŞEKİL: II numune içinde rahatça hareket edeceklerinden bu odak düzlemini (E) numunenin devrelerin hazırlanmasında önemli rol oynayan akustik mikroskop yakın gelecekte kendisinden en çok söz edilen laboratuar ve endüstri donanımlarından biri olacaktır.
FAYDALANILAN KAYNAKLAR:
TSAI,G.S^LEE,G.e.vfeWANG,J.K. Transmission Scanning Acoustic Microscopy, international
Laboratory, S: S, C: 9, Mayıs-Haziran 1979 U.S.A.
ROSENCWAIG, Allan Photoacoustic Microscopy, international Laboratory, S: 5, C: 9, Eylül- Ekim 1979, U.S.A.
QUATE, Calvin F., Acoustic Microscopy, Scientific American, Ekim 1979, U.S.A.
Akustik mikroskop prensiplerine oy-1 gun olarak numunenin üzerine ült- rasonlk dalganın düşürülmesi için safir yani silisyum dlokslt birmercek kullanılmıştır. (A). (B) noktası ¿Hm bir uç olup sinyal jeneratöründen gelen elektrik sinyallerini plezoelektrik maddenin (C) üzerine verir. Plezoelektrik malzeme aldığı sinyali votatfma, kendi plezoelektrik katsayısına, kalınlığına ve safir ile temas yüzeyinin verimliliğine bağlı olarak frekansı ve genliği belirli ultrasomk dalgalar (D) haline getirir ve safire geçirir. Safir parçasının öbür ucu şekilde görüldüğü gibi içbükey tıale getirilmiş olup (E)r oyuğun içi yansıma yapmayan camla kaplanmıştır. Bu oyuk mercek ödevini görür ve safir içinden gelen dalgalan odak noktasında toplar. (E) nin detayı için Şekil // ye bakma. Odakta yoğunlaşan ses dalgalan numunenin (F) istenilen noktasına çarptırılır.
bîr merceğin yapısı
|
A |
Safir (A) içinden gelen ültrasonik dalgalar (B) safirin ucundaki küresel içbükey bir yüzey tarafından kırılarak bir odak noktasında toplanır (C).
İçbükey yüzeyin (D) içi ışığı yansıtmayan cam ile kaplıdır. Numuneyi safir yüzeyine paralel bir düzlemde İki eksen boyunca hareket ettirerek her noktaya bir ses yoğunlaştınlması verilmesi mümkündür. Ses dalgalan ŞEKİL: II numune içinde rahatça hareket edeceklerinden bu odak düzlemini (E) numunenin
